本セミナーでは、車載用電子機器を設計する上で必要な信頼性要求の解説とデザインレビュによる設計検証手法、各種信頼性試験法とその根拠、試験における注意事項など実践的な内容を詳解いたします。
日時
- 2011年2月24日 10時00分〜 2011年2月24日 16時00分
開催予定
プログラム
自動車業界は今、省エネ・リサイクル化の推進と安全性、利便性、快適性に取り組んでいる。特に車載電子機器では、目まぐるしい新製品の投入の中で、使用環境における信頼性と安全性を確保しなければならない。その為には、自動車における厳しい環境条件の中、要求される信頼性を明らかにし、具体化した機器設計および検証手法が必要とされている。 また、電子機器単独の耐環境性仕様を把握していても、実際に使用される環境での環境ストレス因子の組み合わせに対する耐環境性は大幅に異なることもある。これは、仕様が環境を代表する条件であり、必ずしも100%の環境をカバーができないことによる。従って、その仕様の根拠を理解し、設計や評価条件へフィードバックすることが大事になってくる。 本講座は、車載用電子機器を設計する上で必要な信頼性要求の解説とデザインレビュによる設計検証手法、各種信頼性試験法とその根拠、試験における注意事項など実践的な内容を取り上げて行うものである。
- 車載電子機器/部品の現状と動向
- 電子システムの現状と動向
- 各種システムの概要
- 今後の市場動向
- 信頼性からみた今後の動向
- 環境規制、安全性などの社会対応
- 短期開発や原低などの対応
- 電子システムの現状と動向
- 車載電子機器の信頼性設計
- 車両環境の概要
- 温湿度などの物理環境
- 過渡電圧などの電気環境
- 各種システムの概要
- 車載電子機器の信頼性設計
- 信頼性要求 (目標)
- デザインレビュ
- 車両システムのレビュ
- 電子機器のレビュ
- 半導体の信頼性
- 車両環境の概要
- 機器/部品の信頼性試験
- 機器の信頼性試験
- 各種信頼性試験規格
- 信頼性試験条件とその根拠
- 信頼性試験実施上の注意
- 半導体の信頼性試験
- 半導体の試験仕様の考え方
- 信頼性試験の事例
- 機器の信頼性試験
会場
受講料
- 1名様: 43,000円(税別) / 47,300円(税込)
- 複数名: 55,000円(税別) / 60,500円(税込)