"Cuワイヤ"ボンディング・パッケージ技術の材料特性と信頼性
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会場 開催
日時
2011年6月22日 10時00分
〜
2011年6月22日 17時00分
開催予定
プログラム
第1講 高機能Cuボンディングワイヤの接合性および信頼性 (10:00~15:00)
ワイヤボンディング技術の動向
最新パッケージ要求への適応
Auボンディングワイヤ開発
ワイヤボンディングの不良・改善事例
低コストワイヤ材料の開発動向
Au代替材料の要求特性
Cuワイヤの技術課題
Cuワイヤの材料開発
Cuワイヤの技術課題と特性改善
ボンディング性能・ボール接合
ウェッジ接合
低ループ接続
接合信頼性と不良機構
第2講 Cuワイヤパッケージの信頼性と封止材 (15:00~17:00)
Cuワイヤの長所、短所
HTSL
結果
HAST
結果
封止材の影響
ボンディング強度の影響
バイアスの影響
Pd被覆の影響
HAST
vs. uHAST vs. PCT比較
HASTの推定不良メカニズム
推定不良メカニズム
ケミカルモデルシミュレーション
まとめ
会場
株式会社オーム社 オームセミナー室
101-8460
東京都
千代田区
神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図
受講料
1名様: 43,000円(税別) / 47,300円(税込)
複数名: 55,000円(税別) / 60,500円(税込)
割引特典について
複数名 同時受講:
1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能)