日時
- 2011年6月22日 10時00分〜 2011年6月22日 17時00分
開催予定
プログラム
第1講 高機能Cuボンディングワイヤの接合性および信頼性 (10:00~15:00)
- ワイヤボンディング技術の動向
- 最新パッケージ要求への適応
- Auボンディングワイヤ開発
- ワイヤボンディングの不良・改善事例
- 低コストワイヤ材料の開発動向
- Au代替材料の要求特性
- Cuワイヤの技術課題
- Cuワイヤの材料開発
- Cuワイヤの技術課題と特性改善
- ボンディング性能・ボール接合
- ウェッジ接合
- 低ループ接続
- 接合信頼性と不良機構
- ボンディング性能・ボール接合
第2講 Cuワイヤパッケージの信頼性と封止材 (15:00~17:00)
- Cuワイヤの長所、短所
- HTSL 結果
- HAST 結果
- 封止材の影響
- ボンディング強度の影響
- バイアスの影響
- Pd被覆の影響
- HAST vs. uHAST vs. PCT比較
- HASTの推定不良メカニズム
- 推定不良メカニズム
- ケミカルモデルシミュレーション
- まとめ
会場
受講料
- 1名様: 43,000円(税別) / 47,300円(税込)
- 複数名: 55,000円(税別) / 60,500円(税込)
割引特典について
- 複数名 同時受講:
1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能)