"Cuワイヤ"ボンディング・パッケージ技術の材料特性と信頼性

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開催予定

プログラム

第1講 高機能Cuボンディングワイヤの接合性および信頼性 (10:00~15:00)

  1. ワイヤボンディング技術の動向
    1. 最新パッケージ要求への適応
    2. Auボンディングワイヤ開発
    3. ワイヤボンディングの不良・改善事例
  2. 低コストワイヤ材料の開発動向
    1. Au代替材料の要求特性
    2. Cuワイヤの技術課題
    3. Cuワイヤの材料開発
  3. Cuワイヤの技術課題と特性改善
    1. ボンディング性能・ボール接合
      1. ウェッジ接合
      2. 低ループ接続
    2. 接合信頼性と不良機構

第2講 Cuワイヤパッケージの信頼性と封止材 (15:00~17:00)

  1. Cuワイヤの長所、短所
  2. HTSL 結果
  3. HAST 結果
    1. 封止材の影響
    2. ボンディング強度の影響
    3. バイアスの影響
    4. Pd被覆の影響
  4. HAST vs. uHAST vs. PCT比較
  5. HASTの推定不良メカニズム
    1. 推定不良メカニズム
    2. ケミカルモデルシミュレーション
  6. まとめ

会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
101-8460 東京都 千代田区 神田錦町3-1
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受講料

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