半導体集積回路の信頼性認定ガイドライン徹底解説

電子デバイスでは、民生機器の低収益性から、高品質を要求される車載向け半導体に注目が集まっています。車載用半導体では、民生品以上に厳しい環境条件、品質条件が要求され、認定のための信頼性試験では民生品に比べて厳しい条件が要求されます。半導体集積回路の信頼性認定ガイドラインとしては、米国ビック3が中心になって策定され、今や世界標準になりつつあるAEC-Q100があります。AEC-Q100は車載用半導体集積回路を認定するための信頼性試験基準で、必要サンプル数の多さや試験時間の長さから評価コストが膨大になる問題があります。一方で、日本発の車載認定ガイドラインとしてJEITA ED-4708が2011年に発行され、現在、世界標準化を進めています。 　本セミナーでは、AEC-Q100に準拠した試験を実施する場合の留意点と、問題点、対応方法について概説します。また、車載用半導体を製造、販売するにあたって知っておくべき国際規格として、品質システムではTS16949、工程監査ではVDA6.3等の規格があり、これらの車載用集積回路認定ガイドラインの動向と、各種信頼性試験の必要性と問題点と知っておくべき国際規格についても、半導体メーカーの立場から詳細に解説します。

1. 車載用半導体集積回路の動向
   1. 車載用半導体集積回路の技術動向
      • 民生品との品質、信頼性レベルの違い
2. 車載用半導体に要求される信頼性
   1. 加速性に基づいた必要信頼性試験条件
      • 温度加速、湿度加速、電圧加速、温度差加速の考え方
   2. 事例紹介
      • 実際の加速率、信頼性レベルの計算例の紹介
3. 半導体集積回路の認定ガイドラインの説明
   1. AEC-Q100の内容と考え方
      • 試験条件、問題点
   2. JEITA ED-4708の内容と考え方
      • 品質保証の考え方、サンプル数、試験条件の考え方
   3. 国際標準化の状況について
4. 車載用半導体に要求される品質システム
   • TS16949、VDA6.3、ISO26262、AEC-Q100等の規格概説