本セミナーでは、オートフォーカス技術を概観し、とくに最近話題になっている像面位相差AFや、その発展形としてのリフォーカスカメラについて解説し、将来の動向について詳解いたします。
日時
- 2015年6月4日 13時00分〜 2015年6月4日 16時45分
開催予定
プログラム
- カメラの自動化におけるAF
- AE (Automatic Exposure) とAF (Autofocus)
- なぜAEが先行したか?
- 最初に実用化されたオートフォーカスは距離測定方式
- 三角測量の応用
- パッシブオートフォーカス
- アクティブオートフォーカス
- デジタルカメラは像面解析方式
- コントラスト検出法の原理
- 位相差検出法の原理
- 一眼レフカメラへの実装
- 位相差検出法AFの発展
- ミラーレスカメラのオートフォーカス
- コントラスト検出法
- トランスルーセントミラー
- 像面位相差検出AF
- 2PD
- ライトフィールドカメラの原理
- 今後の展開
会場
受講料
- 1名様: 43,000円(税別) / 47,300円(税込)
- 複数名: 56,000円(税別) / 61,600円(税込)
割引特典について
- 複数名 同時受講:
1口 56,000円(税別) / 60,480円(税込) (3名まで受講可能)