像面位相差AFを中心としたオートフォーカス技術の基礎と最新動向
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会場 開催
本セミナーでは、オートフォーカス技術を概観し、とくに最近話題になっている像面位相差AFや、その発展形としてのリフォーカスカメラについて解説し、将来の動向について詳解いたします。
日時
2015年6月4日 13時00分
〜
2015年6月4日 16時45分
開催予定
プログラム
カメラの自動化におけるAF
AE (Automatic Exposure) とAF (Autofocus)
なぜAEが先行したか?
最初に実用化されたオートフォーカスは距離測定方式
三角測量の応用
パッシブオートフォーカス
アクティブオートフォーカス
デジタルカメラは像面解析方式
コントラスト検出法の原理
位相差検出法の原理
一眼レフカメラへの実装
位相差検出法AFの発展
ミラーレスカメラのオートフォーカス
コントラスト検出法
トランスルーセントミラー
像面位相差検出AF
2PD
ライトフィールドカメラの原理
今後の展開
会場
株式会社オーム社 オームセミナー室
101-8460
東京都
千代田区
神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図
受講料
1名様: 43,000円(税別) / 47,300円(税込)
複数名: 56,000円(税別) / 61,600円(税込)
割引特典について
複数名 同時受講:
1口 56,000円(税別) / 60,480円(税込) (3名まで受講可能)