像面位相差AFを中心としたオートフォーカス技術の基礎と最新動向

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会場 開催

本セミナーでは、オートフォーカス技術を概観し、とくに最近話題になっている像面位相差AFや、その発展形としてのリフォーカスカメラについて解説し、将来の動向について詳解いたします。

日時

開催予定

プログラム

  1. カメラの自動化におけるAF
    • AE (Automatic Exposure) とAF (Autofocus)
    • なぜAEが先行したか?
  2. 最初に実用化されたオートフォーカスは距離測定方式
    • 三角測量の応用
    • パッシブオートフォーカス
    • アクティブオートフォーカス
  3. デジタルカメラは像面解析方式
    • コントラスト検出法の原理
    • 位相差検出法の原理
    • 一眼レフカメラへの実装
    • 位相差検出法AFの発展
  4. ミラーレスカメラのオートフォーカス
    • コントラスト検出法
    • トランスルーセントミラー
    • 像面位相差検出AF
    • 2PD
  5. ライトフィールドカメラの原理
  6. 今後の展開

会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
101-8460 東京都 千代田区 神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図

受講料

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