本セミナーは、低エネルギー逆光電子分光法による有機半導体のLUMO準位測定と、有機エレクトロニクスへの応用展開について詳解致します。
日時
- 2014年10月15日 13時30分〜 2014年10月15日 16時30分
開催予定
プログラム
- 有機半導体の電子構造の基礎
- 有機半導体デバイスと電子構造
- 有機半導体の分子軌道と電子準位
- 有機半導体の電子準位、イオン化エネルギー・電子親和力、状態密度
- 電子構造の測定法・評価法の概要上
- LUMO準位と電子親和力の測定・評価法
- 有機半導体のLUMO準位の特徴
- これまでに使われてきたLUMO準位測定・評価法の概略と問題点
- 電気化学的手法 (サイクリックボルタンメトリー)
- 光電子分光法、光吸収分光法
- 逆光電子分光法
- その他の手法
- 逆光電子分光法の特徴と問題点
- 逆光電子分光法の原理
- 逆光電子分光測定装置
- 有機半導体LUMO準位測定の実例
- 逆光電子分光による有機半導体測定の問題点
- 低エネルギー逆光電子分光の原理と性能
- 従来の逆光電子分光法の問題点をいかに解決するか?
- 原理と装置開発
- 本測定法の性能評価
- 低エネルギー逆光電子分光法の発展
- 低エネルギー逆光電子分光法による有機エレクトロニクス材料のLUMO準位と電子親和力の測定・評価の実際
- 有機薄膜太陽電池アクセプター材料の評価
- 有機EL素子材料の評価
- 従来法による測定との比較
- 低エネルギー逆光電子分光法の有機半導体基礎研究への展開
- 電子親和力の分子配向依存性 -イオン化エネルギー、電子親和力とは何か?
- 有機固体の表面準位
- 低エネルギー逆光電子分光法の今後の展望
会場
受講料
- 1名様: 46,000円(税別) / 50,600円(税込)
- 複数名: 57,000円(税別) / 62,700円(税込)
割引特典について
- 複数名 同時受講:
1口 57,000円(税別) / 61,560円(税込) (3名まで受講可能)