低エネルギー逆光電子分光法による有機半導体のLUMO準位測定と有機エレクトロニクスへの応用展開

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本セミナーは、低エネルギー逆光電子分光法による有機半導体のLUMO準位測定と、有機エレクトロニクスへの応用展開について詳解致します。

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プログラム

  1. 有機半導体の電子構造の基礎
    1. 有機半導体デバイスと電子構造
    2. 有機半導体の分子軌道と電子準位
    3. 有機半導体の電子準位、イオン化エネルギー・電子親和力、状態密度
    4. 電子構造の測定法・評価法の概要上
  2. LUMO準位と電子親和力の測定・評価法
    1. 有機半導体のLUMO準位の特徴
    2. これまでに使われてきたLUMO準位測定・評価法の概略と問題点
      1. 電気化学的手法 (サイクリックボルタンメトリー)
      2. 光電子分光法、光吸収分光法
      3. 逆光電子分光法
      4. その他の手法
  3. 逆光電子分光法の特徴と問題点
    1. 逆光電子分光法の原理
    2. 逆光電子分光測定装置
    3. 有機半導体LUMO準位測定の実例
    4. 逆光電子分光による有機半導体測定の問題点
  4. 低エネルギー逆光電子分光の原理と性能
    1. 従来の逆光電子分光法の問題点をいかに解決するか?
    2. 原理と装置開発
    3. 本測定法の性能評価
    4. 低エネルギー逆光電子分光法の発展
  5. 低エネルギー逆光電子分光法による有機エレクトロニクス材料のLUMO準位と電子親和力の測定・評価の実際
    1. 有機薄膜太陽電池アクセプター材料の評価
    2. 有機EL素子材料の評価
    3. 従来法による測定との比較
  6. 低エネルギー逆光電子分光法の有機半導体基礎研究への展開
    1. 電子親和力の分子配向依存性 -イオン化エネルギー、電子親和力とは何か?
    2. 有機固体の表面準位
  7. 低エネルギー逆光電子分光法の今後の展望

会場

株式会社オーム社 オームセミナー室
101-8460 東京都 千代田区 神田錦町3-1
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受講料

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