日時
- 2014年5月23日 13時00分〜 2014年5月23日 16時30分
中止
プログラム
- NITE (独立行政法人製品評価技術基盤機構) 事故情報DBより (はんだクラック)
- 製品別、事故区分別、使用年数別発生件数
- 市場残存率からみた発生件数
- 市場残存率を考慮したワイブル解析…PCデモ (ワイブル解析プログラム) による解説
- 市場残存率を考慮したワイブル解析方法
- はんだクラックの市場データとヒートショック試験の比較
- 市場での推定発生件数 (対象台数100000台)
- HALT とは
- 試験内容
- HALT条件 (複合ストレス)
- HST条件:気相式タイプ
- 試料
- はんだ量と耐クラック性、及びHSTとHALTの加速性
- HALT実施
- HST実施
- HALTとHSTのはんだクラック例
- 試験結果
- HASS , HASA
- 試験内容
- HALTによるはんだ接続信頼性評価
- 目的、内容、結果
- まとめ
- その他のHALT活用事例紹介
- コネクタの接続不良
- ワイヤーバレルカシメ部の接続不良
- ファストン端子のタブバレルの応力緩和
会場
受講料
- 1名様: 43,000円(税別) / 47,300円(税込)
- 複数名: 56,000円(税別) / 61,600円(税込)