本セミナーでは、ソフトウェアテスト概論、及び直交表やPair-wise 法等の組合せテストの進化の歴史を紹介し、産総研が研究開発する先端的なモデルベースのソフトウェアテスト技法「FOT」について解説致します。
日時
- 2014年1月22日 13時30分〜 2014年1月22日 16時30分
中止
プログラム
Pair-wise 法 (及び、その拡張である N-wise 法) とは組合せ技術を用いたソフトウェアテスト技術である。Pair-wise 法はハードウェアのテスト技術に用いられる「直交表」を基に、ソフトウェアテスト向けに発展したテスト技術である。
近年の高まるソフトウェア品質確保の需要や安全規格対応などから、少ないテストで多くの不具合を発見できる Pair-wise 法が最近再注目を浴びている。さらに最近、独立行政法人産業技術総合研究所 (産総研) は、Pair-wise 法にモデルベース開発技法を取り入れた、モデルベーステスト技法「FOT 技法」を開発している。
本技術ではモデルベースのテスト設計を行うと、そのテスト設計より Pair-wise 法を基にした網羅的なテストケースを自動に生成することができる。
本講演では、ソフトウェアテスト概論、及び直交表やPair-wise 法等の組合せテストの進化の歴史を紹介し、産総研が研究開発する先端的なモデルベースのソフトウェアテスト技法「FOT」について解説する。
- ソフトウェアテスト、組合せテスト、Pair-wise法
- Pair-wise法
- Pair-wise法支援ツールデモ
- Pair-wise法の歴史
- 直交表とPair-wise法
- Pair-wise法アルゴリズム
- FOT (Feature Oriented Testing)
- FOT開発の背景
- FOT技術詳細
- FOTツールデモ
- FOT評価実験の紹介
会場
受講料
- 1名様: 43,000円(税別) / 47,300円(税込)
- 複数名: 55,000円(税別) / 60,500円(税込)
割引特典について
- 複数名 同時受講:
1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能)