日時
- 2013年11月15日 13時30分〜 2013年11月15日 16時00分
開催予定
プログラム
- NITE (独立行政法人製品評価技術基盤機構) 事故情報DBより (はんだクラック)
- 製品別、事故区分別、使用年数別発生件数
- 市場残存率からみた発生件数
- 市場残存率を考慮したワイブル解析
- HALT (Highly accelerated life test) とは
- 試験方法
- HASS (Highly Accelerated Stress Screening) 、HASA (Highly Accelerated Stress Audit)
- HALTによるはんだ接続信頼性評価
- 目的、内容、結果
- まとめ
- その他のHALT活用事例紹介
会場
受講料
- 1名様: 41,000円(税別) / 45,100円(税込)
- 複数名: 55,000円(税別) / 60,500円(税込)
割引特典について
- 複数名 同時受講:
1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能)