HALTによるはんだ接続信頼性評価
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会場 開催
日時
2013年11月15日 13時30分
〜
2013年11月15日 16時00分
開催予定
プログラム
NITE
(独立行政法人製品評価技術基盤機構) 事故情報DBより (はんだクラック)
製品別、事故区分別、使用年数別発生件数
市場残存率からみた発生件数
市場残存率を考慮したワイブル解析
HALT
(Highly accelerated life test) とは
試験方法
HASS
(Highly Accelerated Stress Screening) 、HASA (Highly Accelerated Stress Audit)
HALTによるはんだ接続信頼性評価
目的、内容、結果
まとめ
その他のHALT活用事例紹介
会場
株式会社オーム社 オームセミナー室
101-8460
東京都
千代田区
神田錦町3-1
株式会社オーム社 オームセミナー室の地図
受講料
1名様: 41,000円(税別) / 45,100円(税込)
複数名: 55,000円(税別) / 60,500円(税込)
割引特典について
複数名 同時受講:
1口 57,750円(税込) (3名まで受講可能)